美国PHASE II涂层测厚仪PTG-3550

技术参数：

测量范围 0-1000μm 或0-40Mils
分辨率 0.1μm/0.01mils(0-99μm)或者 1mm(超过100μm)
保证公差 一点校准后=/-1-3%n或者2μm
*小测量面积 5mm*5mm
*小弧面 凸面：0.12"(3mm)凹面：1.2"(30mm)
*小基体厚度 铁基：20mils(0.5mm) 非铁基：2mils(50mm)
校准 零校准/金属薄片校准
被测物体表面*高温度 302华氏度（150华氏度）
外接延长探头